常见问题
微分干涉（DIC）相衬工业检测显微镜拍摄导电粒子图清楚吗？
所属分类：常见问题 点击次数：1030 发布日期：2019-05-01
微分干涉（DIC）相衬工业检测显微镜适用于对工件表面的组织结构与几何形态进行显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念，可以方便升级系统，实现偏光观察, DIC观察等功能，导柱升降装置，可以快速调整工作台与物镜之间的距离，适用于不同厚度工件检测。机械移动式载物平台有效定位工件观察部位。调焦机构采用圆柱滚子导向传动，机构升降平稳。产品适用于精密零件，集成电路，包装材料等产品检测。
微分干涉（DIC）显微镜在拍摄导电粒子行业应用犹为突出。
以下是微分干涉显微镜所拍实际样品图
微分干涉（DIC）显微镜10倍照片效果图1
微分干涉（DIC）显微镜10倍照片效果图2
微分干涉（DIC）显微镜20倍照片效果图1
微分干涉（DIC）显微镜20倍照片效果图2
文章出处：老上光仪器厂 www.xianweijing13.com
微分干涉显微镜所用机型及样品现场图
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