常见问题
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微分干涉（DIC）相衬工业检测显微镜拍摄导电粒子图清楚吗？微分干涉（DIC）相衬工业检测显微镜适用于对工件表面的组织结构与几何形态进行显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念，可以方便升级系统，实现偏光观察, DIC观察等功能，导柱升降装置，可以快速调整工作台与物镜之间的距离，适用于...
2022-04-10 -
显微镜测量软件ImageView锐化使用教程13.7.1 非锐化掩模非锐化掩模是一种经常出现在图像处理软件中的图像锐化技术。之所以叫“非锐化”是因为该方法首先制作出原始图像的正的模糊模板，即“非锐化”模板。然后将该模板与原始图像相减，即可产生一幅比原始图像更清楚的图像。首先打开一幅图...
2022-04-17 -
显微镜测量软件ToupView锐化使用教程
13.7.1 非锐化掩模非锐化掩模是一种经常出现在图像处理软件中的图像锐化技术。之所以叫“非锐化”是因为该方法首先制作出原始图像的正的模糊模板，即“非锐化”模板。然后将该模板与原始图像相减，即可产生一幅比原始图像更清楚的图像。首先打开一幅图...
2022-04-10 -
显微镜测量软件OLD-SG锐化使用教程
13.7.1 非锐化掩模非锐化掩模是一种经常出现在图像处理软件中的图像锐化技术。之所以叫“非锐化”是因为该方法首先制作出原始图像的正的模糊模板，即“非锐化”模板。然后将该模板与原始图像相减，即可产生一幅比原始图像更清楚的图像。首先打开一幅图...
2022-04-10 -
显微镜测量软件ImageView去噪非局部平均使用教程传统的局部平均滤波器是对目标周围的像素点取平均值，而非局部平均则是在整个图像内的搜索窗中对所有模板块做加权平均处理。搜索窗内的邻域像素块对于目标模板块的值取决于他们之间的相似程度。相比于其他的去噪算法，如高斯去噪，维纳滤波去噪，全变分去噪，...
2022-04-10 -
显微镜测量软件ToupView去噪非局部平均使用教程
传统的局部平均滤波器是对目标周围的像素点取平均值，而非局部平均则是在整个图像内的搜索窗中对所有模板块做加权平均处理。搜索窗内的邻域像素块对于目标模板块的值取决于他们之间的相似程度。相比于其他的去噪算法，如高斯去噪，维纳滤波去噪，全变分去噪，...
2022-04-10
