大家好，这里是老上光显微镜知识课堂，在这里你可以学到所有关于显微镜知识，好的，请看下面文章： 分析材料中微量元素的种类和含量有很多方法。然而，能量谱分析具有操作简单、分析速度快、结果直观的特点。SKYLABS中最常用的方法是通过EDS对材料进行能谱分析，快速测定材料、材料组成及相应含量。
    
     利用EDS-EDS-EDS-EDS能谱仪，结合扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM），对材料微区元素种类和含量进行了分析。
    
     但在成分分析的实践中，田龙俊也发现了能谱（EDS）的两类问题。因此，我们查阅了相关数据，回答了能量谱分析结果的两类常见问题。
    
     以上是天朗评估的实际能量谱情况的结果。从上述图中很容易看出，在EDS谱中有许多对应于元素的峰。例如，Ti、Cl、Si等元素均含有多个峰。出什么事了这是否意味着这个元素非常高
    
     事实上，我们已经了解了EDS的工作原理，这个问题很容易理解。EDS是由外来粒子或能量激发的电子壳，留下一个空位，然后外部电子跳跃到这个空位，同时发射出特征X射线，从而造成能量差异。通过电子在不同壳层之间的转移将产生不同的谱线，EDS谱线是这些特征X射线脉冲的积累，得到积分。
    
     这样，线条越多，外层电子占据越多，定量分析就是根据不同的元素选择不同的线系峰值强度和这个元素的响应值来计算，所以峰数和元素含量不太直接相关。
    
     此外，在样本中总是存在一些不可能的元素。出什么事了例如，上述样品中的Al。
    
     1)在TEM和SEM中都可能观察到C和O，它们由于空气中的脂质和其他有机物而容易吸附在样品表面，特别是在TEM中，通常使用C膜载体，C是正常的。
    
     2)铝或硅：SEM，由于采用铝样品台或玻璃基板，所以在样品扫描光谱的较薄区域，会出现基板的信号。
    
     3）Cu和Cr：这是TEM所特有的。Cu是由使用Web材料Cu引起的，而Cr通常被认为是由样品棒或腔室材料中的微量元素引起的。
    
     4)B：有时分辨率突然很高，看到一个清晰的B峰，这应当注意，因为样品在扫过大范围的运动过程中很容易出现这个峰，并且如果样品被加热，就会出现一个B峰。
    
     5）一些稀土元素或镧系元素是非常罕见的。这可能是由于强噪声峰。仪器分析表明，在相应的能区存在微量元素，可以通过软件进行去除。
    
     相比之下，EDS更适合于无机或有机固体材料、金属材料的物相分析、成分分析和夹杂物鉴定，EDS可以方便地用于材料表面微区成分的定性和定量分析。用于材料表面元素的表面、线和点分布分析。但是经常没有检测到轻元素（如周期表1-4）。
    
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