镀层测厚仪中 N以及FN的区别
所属分类：显微镜百科 点击次数：167 发布日期：2022-05-08
镀层测厚仪是一种经济实用型便携式测量仪，能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量，既可用于实验室，也可用于工程现场，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域，是材料保护专业的仪器。
镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的**次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
F代表ferrous 铁磁性基体，
F型的涂层测厚仪采用电磁感应原理， 来测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如：漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。
N代表Non- ferrous非铁磁性基体，N型的涂层测厚仪采用电涡流原理；来测量用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。
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