超声波探伤仪性能的测定
所属分类：显微镜百科 点击次数：236 发布日期：2022-05-08
超声波探伤仪性能的测定
一.目的:现场测试超声波仪器性能,包括垂直线性,水平线性,电噪声,动态范围和衰减器精度
二.实验设备
超声波探伤仪
直探头(2.5P14,2.5P20,5P14等均可)
IIW1试块(或CSK-IA,1#试块等均可)
平底孔试块
三.实验步骤
1.测定垂直线性
提示:缺陷在工件中的大小是通过缺陷回波在示波屏上的幅度大小反映的,反射回波幅度是按一定规律反映缺陷实际反射声压的大小,即为仪器的垂直线性状况,以垂直线性误差表示. 如图1 所示,把与探伤仪连接的直探头平稳地耦合在平底孔试块的探测面上,仪器上的"抑制"与"深度补偿"关闭,在衰减器上应至少留有30dB的衰减余量,调节"增益",使直探头在试块上找到的大平底孔回波高度为满刻度,固定探头位置与接触压力(必要时可采用专用的探头压块).调节衰减器,依次记下每衰减2dB时平底孔回波幅度的满刻度百分数并记入表1,并与理论值比较,取大正偏差△+和负偏差大优良值｜△-｜之和为垂直线性误差,即:
注:理论波高值按下式计算-- △dB=20lg(H100 /H)(式中H100为以
满刻度起始的基准波高,H为每衰减2dB 时理论上应达到的波高).
后在图2 上以波高(%)为纵坐标,衰减量(dB)为横坐标绘出垂直线性
理想线与实测线(按表1),再根据(1)式计算垂直线性误差.
| 表1 | | | | |
| | 衰减量(dB) | 理论波高值(%) | 实测波高值(%) | 偏差±(%) |
| | 0 | 100 | | |
| | 2 | 79.4 | | |
| | 4 | 63.1 | | |
| | 6 | 50.1 | | |
| | 8 |
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