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射线探伤和超声探伤的技术特性简易比较
所属分类：显微镜百科 点击次数：226 发布日期：2022-05-08
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射线探伤和超声探伤的技术特性简易比较
| 检 测 方 法 | 射线照相法探伤 | 超声探伤 | |
| 原 | 方法的原理 | 穿透法 | 脉冲反射法 |
| 物理能量 | 电磁波 | 弹性波 | |
| 缺陷部位的表现形式 | 完好部件与缺陷部位的穿透剂量有差异。其差异程度与这两部分的材质、射线透过的方向以及缺陷的尺寸有关。 | 在完好部位没有反射波，而在缺陷部位发生反射波。其反射程度与完好部位和缺陷部位的材质有关。 | |
| 信息显示 | 射线底片 | 荧光屏 | |
| 理 | 显示的内容 | 完好部位与缺陷部位的底片黑度差 | 缺陷反射波的位置和幅度 |
| 易于检测的缺陷方向 | 与射线方向平行的方向 | 与超声波束垂直的方向 | |
| 易于检测的缺陷形状 | 在射线方向上有深度的缺陷 | 与超声波束成垂直方向扩展的缺陷 | |
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