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AFM是分析表面形貌及表面粗糙度计量显微镜
所属分类：显微镜百科 点击次数：222 发布日期：2022-06-20
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AFM是分析表面形貌及表面粗糙度计量显微镜 AFM是分析表面形貌及表面力性能(如摩擦和弹性)的有效工具。它揭示分子或原子级尺寸，其空间分辨率比电子硅微术的高，用。可以很容易地观测硬而平的表丽。软而粗糙的样品则会产生假的图像。已知在填充体系中有下列应用：测定高模量PE纤维的表面形貌和纳米结构1、细直径(13μm)芳纶的结构及形貌2以及炭黑的聚集体。 测试步骤：利用～个很细的探针(通常针尖的半径小于10mn)，通过探测探针与样品间排斥力的变化来观测表面形貌？其硅微镜载物台允许样品旋转，并采用了儿种不同的探针(原子级的高分辨率探钳不同玄观观测用的探针)和各种现成的软件。叮在空气中对样品进行观测，但在水中观测试样可提高空间分辨率，避免损伤试样表面。采用恒力扫描模式也可限制表面损伤。样品的制备非常重要。通常，用湿微镜盖玻片作为基底，将其切割成小部分(如3 X 3mm)，把样品沉积在湿的玻璃片上，然后在室温下真空干燥2。观测炭黑聚集体时，制样程序较复杂：将20mm炭黑超声分散在40ml氯仿中，然后滴几微升到玻璃片上3。为了使聚集体的分布和密度均匀，需要在同…位置将悬浮液接连滴2．3次。还要注意．载玻片的表面埘分布的均匀性有重要影响。用镀金的表丽比直接用玻片时分散更均匀。炭黑制样时选镀金载玻片3。 标准方法：无 主要结果：观测到的最小纳米微丝宽瞍是10～15nm(甚至能看到5—8ran更细的纤维)1。AFM的垂直分辨率比SEM的高，因此很容易观测到纤维的形貌特征。纤维直径的测试结果与x射线衍射法测得的结果一致，能够测定芳纶的粗糙度参数，这有助于改善工艺条件
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