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颗粒大小分布测定计量图像显微镜
所属分类：显微镜百科 点击次数：204 发布日期：2022-06-20
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颗粒大小分布测定计量图像显微镜制造常识 1．筛分法 把干的或者湿的样品放在一个孔的大小已知的筛上筛分，把不能过筛的颗粒进行称量，即可测得大于或者小于筛孔的部分。虽然这是一种最简单的方法，但是难于重复和测准。对于筛子的磨损要经常进行校验。较大的颗粒易于把孔堵住而挡住小颗粒的通过，而某些较大的颗粒则也有可能从有的大于标称大小的筛孔中通过。工作人员需要经常检查筛子的状况，搞清有多大一部分孔已大于筛子的标称大小。对于细粒含量较高的样品更好用湿筛法。 2．Sedigraph法 先把样品中大于45f真m的颗粒用筛分或其它方法除去，然后分散在水中，并将样品转移到一个小槽中令其沉降。用X-射线密度计检测固体的沉降情况，然后用Stokes定律加以解析。可作图直接表明固体中小于所谓当量沉降直径的部分。这些数据可准确地预测物料的沉降性质，但与其它的颗粒大小分布测定方法之间可能有较大的偏差（尤其是对于粘土和薄的片状颗粒）。 3．Microtrac法 样品悬浮在水中循环通过一个槽，用仪器测定当激光束通过槽时颗粒所产生的衍射图谱，从这个衍射图谱可解析出颗粒大小分布，并打印成表格。应用这种仪器的局限是，它对于显著超出其范围的颗粒完全不能识别。例如，常用的Microtrac型仪器的正常范围是1. 8～176f真m。因此，
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