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二维光电探测技术-高精度星体测量常识
所属分类：显微镜百科 点击次数：177 发布日期：2022-06-20
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二维光电探测技术-高精度星体测量常识 天体在天球上的几何坐标与其成像在芯片上的量度坐标之间的转换，仍采用照相天体测量的那套方法。照相天体测量中，多年来形成的一套成熟的方法是：在几何坐标与量度坐标之间借助于理想坐标来过渡，即先将参考星的几何坐标换算成理想坐标，与这些星的量度坐标组合求解出底片常数，用于将待测星的量度坐标换算成理想坐标，最后得到待测星的几何坐标。在这过程中，把量度坐标系与理想坐标系之间坐标原点和坐标轴指向的差异、各种畸变和较差改正的影响等，都归入底片常数中求解出来，一般情况下，可用的参考星数量限制了底片常数的数目，即限制了底片模型的完整性天文底片不仅用于记录和测量天象，在天体物理中也作为一种重要的二维辐射探测器进行测光和光谱工作。在这些测量中．必须测定底片的特性曲线，以便通过测定底片密度来确定照度，进而求得天体的光度变化。 虽然照相方法在某些方面已不能满足目前高精度天体测量的要求，但它依然保持着信息量大和成本低等等优势。不过由于近年新兴的二维光电探测技术发展很快，照相底片的使用范围正逐渐减小。
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