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物料粒度沉降技术-沉降、淘析、显微镜分析显微镜
所属分类：显微镜百科 点击次数：240 发布日期：2022-06-20
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物料粒度沉降技术-沉降、淘析、显微镜分析显微镜 微筛分 对低于38μm 左右的物料，很少进行常规筛分，用于一38μm 物料的筛分作业叫“微筛分”。尽管各种新型电子技术现已投入使用，使用最广的方法仍然是沉降、淘析、显微镜分析和激光衍射法。 用于表示微筛级范围物料粒度的概念有很多，了解这些概念很重要，特别是在综合不同方法确定的粒度分布时，尤为重要。更好一种粒度分布范围只涉及一种方法，但这一点并不是总能办到。 各种方法之间的换算因素因样品特征和环境而异，并且当分布规律不相似时还跟粒度有关。对球形颗粒来说，很多方法最终都会得出同样的结果，但对于不规则颗粒就不是。对一个给定的特征尺寸，以下给出了某些大致的影响因素 使用沉降技术时，待分级物料分散于一种液体中，并在严加控制的条件下沉降；使用淘析技术时，分散物料在某种上升液体流速作用下沉降而得以分级。两种方法都是借助于在液体中运动的阻力而使颗粒分离的。这种运动阻力决定着液体中的颗粒在重力影响下降落时所具有的自由沉降速度。
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