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微电子机械系统以及电子元器件封装计量显微镜
所属分类:显微镜百科 点击次数:624 发布日期:2022-06-20
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微电子机械系统以及电子元器件封装计量显微镜 电子元器件封装已由最初的一个用于无线电真空电子管的简单的玻璃外壳演变成一种极其复杂的系统,目前已成为新一代技术发展的核心。当前,封装技术正在经历着又一次革命。从某些方面来看,也许这将是封装技术的最后一次革命了。由于半导体工业总是遵循着每18个月性能翻一番的摩尔定律不断向前发展,致使集成电路(IC)的复杂程度一直不断增加,工作速度不断提高,而同时芯片尺寸也变得越来越小。电子器件的这些变化对连接到印制电路板上的工艺技术提出了日益严峻的挑战,而印制电路板技术的发展和改进速度却要比半导体技术慢得多,封装技术必须顺应这些变化。封装技术正处在从单芯片封装向密度呈指数增长的多芯片系统的过渡之中。垂直叠层三维(3D)封装设计终于获得了成功,并且正用于目前大多数最新的移动电话。有些人认为三维叠层技术将是高密度化的革命,因为采用这种设计理念会制造出一种立方体形、容量更大和引脚最少的封装技术。对于当前的硅基电子器件而言,这种看法也许是正确的。但是很多新兴器件,包括那些以纳米技术为基础的新型器件已初现端倪,还有一些其他类型的新型器件已经研制成功,如微电子机械系统(MEMS)以及微光电子机械系统(MOEMS)等。 当前,各式各样的机械和光电机械器件急需一种适当的封装技术——对很多芯片设计而言这也许是一种尚不存在的封装技术。MEMS器件为封装研发者和制造商带来了一系列最新的,也是更具诱惑力的挑战。
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