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疏松、偏析、晶粒粗大的波形特征共同特征
所属分类：显微镜百科 点击次数：515 发布日期：2022-06-20
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疏松、偏析、晶粒粗大的波形特征共同特征疏松、偏析、晶粒粗大的波形特征共同特征 疏松、偏析、晶粒粗大的波形具有以下共同特征： (1)正常探伤灵敏度难发现缺陷，即使有反射波出现，也不是某一个反射体单独作用的结果，而是同一波阵面上的反射体共同作用的结果。 (2)比正常探伤灵敏度提高20～30dB后才能出现典型的缺陷波形。 (3)三者的波形特征都系草状回波，即波形虚幻，顶部不清晰，波与波之间难于分辨，移动探头时，波形变化迅速。不同特征 疏松与偏析 严重的疏松(特别是铸件中的疏松)、偏析对底波有一定影响，会使底波明显减少。提高探伤灵敏度，底波反射次数会明显增加。这两类缺陷中，暗点对底波影响较小，孔隙则影响较大。实践证明，锻件中三级以下疏松偏析对底波反射影响不大。伴有气泡缺陷的点状偏析对锻件性能影响较大，它的伤波相对较高，对底波影响也较大。 晶粒粗大 粗晶对底波影响严重，一般情况底波只有1～2次，但提高灵敏度时，它的底波反射次数并不增加，
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