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双曝光全息是获得广泛实际应用的光学检测技术
所属分类：显微镜百科 点击次数：132 发布日期：2022-06-20
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双曝光全息是获得广泛实际应用的光学检测技术两次曝光数字全息检测研究 两次曝光或双曝光全息是获得广泛实际应用的光学检测技术．它不但可以对具有起伏不平表面的物体进行检测，而且，当选择脉冲间隔很小的激光作两次曝光检测时、还能检测处于运动中的实际物体．近年来随着计算机及CCD技术的进步，用CCD分别记录物体形变前后的数字全息图，让重建物平面光波场在计算机的虚拟空间中进行干涉，同样实现了物体微形变的检测，并获得重要应用．以下基于统计光学的基本知识，分别对傅里叶变换法(或s—FFT法)及卷积法(或D—FFT法)波面重建作较详细的研究，导出能够保存物光场高频信息的消零级衍射干扰的卷积重建算法，给出相应的实验证明．所得的结论可以用于其它形式数字全息检测．物体表面形变与相干基元波相差的关系 由于被测量表面可以视为大量散射基元的组合体．物体的形变可以由每一个基元在形变前后的位移表示出来．光波传播及数字全息检测全过程进行较完整的模拟，理论模拟的结果将逐一与实验测量相比较． 所研究的双光路两次曝光数字全息测量系统光路图．图中，来自氦氖激光的光束首先被半反半透镜分为两部分．每一部分将再次分解为两束光、经扩束、准直及起偏振后，分别形成两路照明物光及投向CCD的两路参考光．并且，为消除两组物光及参考光间的干扰，投向物体的照明物光及投向CCD的参考光是两组振动方向相互垂直的偏振光．此外，为控制参考光的角度，让重建物光能够与零级衍射光及共轭物光分离，参考光的角度是通过在垂直于光轴方向控制扩束镜的平移设定的．实验研究时，在物体形变前后分别用CCD拍摄干涉图，使用S-IFFT算法作菲涅耳衍射逆运算波面重建，并通过物体形变前后重建波面的比较完成物体形变的测量．
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