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岩体切面成很小角度解理构造截面分析显微镜
所属分类：显微镜百科 点击次数：129 发布日期：2022-06-20
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岩体切面成很小角度解理构造截面分析显微镜 由于应力作用对于岩体的影响，也由于研磨薄片过程的结果，矿物常多少发生断裂或破碎，在十分均质的物质中这样引起破裂是不规则的，但是假如在晶体中有最小粘合力的方向，破裂将要遵循着这些方向并在薄片中将现出细致的平行线条代表着切面中的解理面的痕迹，裂痕的规则性和连续性可以说明解理构造完全的程度，但必须记住解理与切面成很小角度时，一般在薄片中是看不出来的。 在一种矿物像普通辉石或角闪石的情况下，具有二个方向的完全解理，二个面彼此相交的角度，自然是这个矿物的特性，或至少是一矿物辉石类或角闪石类的特性，如果薄片是垂直切于二个解理的，则所见的痕踪即是真正角度，任何其他方向的切片，其解理痕踪的角度是不同的，但在薄片几乎与解理相垂直时，其差是不会太大的，且常能够将它辨别出来，譬如辉石类解理间的角度是87°而角闪石类是1/2，在薄片平等于二个解理的交叉点时，二个解理就只看到一个了，矿物如普通辉石或角闪石的薄片呈现一组解理时，可以假定它是几乎与解理交叉点平行的切面的。
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