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粒状和低反射率工件表面光洁度测量显微镜
所属分类：显微镜百科 点击次数：96 发布日期：2022-06-20
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粒状和低反射率工件表面光洁度测量显微镜 高光洁度表面往往采用抛光方法，加工纹路极其混乱，其干涉条纹曲折、断裂，因而无法测量;电火花加工表面呈粒状，同样也无法测量。此时，可应用仪器的附件—狭缝目镜来进行测量。如果某工件表面既呈粒状又为低反射率，那么可将狭缝目镜和低反射率反射镜一起使用(如用在测量毛玻璃时)。 用狭缝目镜测量时，工件表面不平深度亦按公式 如果测量阶梯或者测量具有尖锐边缘的刻槽，会引起干涉条纹中断。而应用本附件(狭缝目镜)时，没有象使用本机时那样(在白光照明时)具有和其他彩色干涉条纹相区别的二印模法测量表面光洁度 方法和第三章五、印模方法测量表面光洁度相同，唯对高光洁度表面，印模方法误差增大，故一般仅适用于▽10,▽11,再高时很少应用。
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