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光学长度、位移、角度测量用图像显微镜厂商

所属分类:显微镜百科 点击次数:112 发布日期:2022-06-20

网站网友点击量更高的文献目录排行榜: 点此链接 0 光学长度、位移、角度测量用图像显微镜厂商    主动测量与被动测量相比,其优点或者说必要性,在总论中已叙述了。此处就其长度、位移、角度的主动测量方法,分三部分叙述如下:    1.光学主动测量    2.流体主动测量    3.电学主动测量下面分两种情况说明:    ①几毫米以内的小尺寸和小位移的测最,    ②几厘米以上至几十厘米的大尺寸以及大位移的测量。    在微小尺寸和微小位移的测量中,又有两种情况:①测量的值是表面各段微小尺寸差,②用比较法测量被测件与标准件之差。不论是测量微小尺寸的值,还是比较测量微小长度差,量仪检测微小长度的机能都是相同的。通常把这种测量仪称为比较测量仪。 关注页面底部公众号,开通以下权限: 一、获得问题咨询权限。 二、获得工程师维修技术指导。 三、获得软件工程师在线指导 toupview,imageview,OLD-SG等软件技术支持。 四、请使用微信扫描首页底部官方账号!

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