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矿物截面显微颗粒分析可以用岩石显微镜测量
所属分类：显微镜百科 点击次数：141 发布日期：2022-06-20
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矿物截面显微颗粒分析可以用岩石显微镜测量 单粒矿物除了容易作光学和X射线鉴定外，其主要优点是各种研究矿物的技术，如旋转针、X射线、离子探针、电子探针、扫描电镜和扫描透射电镜等，都可用到矿物的同一个颗粒上，这样就可准确地了解具有特定微最元素组成的某一矿物所具有的各种性质。 两面抛光薄片中的矿物也可以用岩石显微镜、扫描电镜、电子探针和扫描透射电镜来研究，但是用单粒矿物的更大优点，就在于能快速准确地作出鉴定，同时能获得比重和单晶X射线等方面的资料。
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