显微镜百科
应当用一个电灯泡与待侧电容器-电路检测显微镜
所属分类：显微镜百科 点击次数：107 发布日期：2022-06-20
网站网友点击量更高的文献目录排行榜：
点此链接
0
应当用一个电灯泡与待侧电容器-电路检测显微镜 介质击穿介质击穿可能由过压或对介质造成损伤的制造缺陷引起。电解电容器制造缺陷如果有的话，那也很少能加以证明，因为证据在故障过程中不可避免地会遭到破坏。介质击穿引起电容器两个端子之间的电流不受控制地流动，从而导致过大的功率耗散且可能发生爆炸。识别介质击穿的电容器通常很容易看出，因为这类故障是典型的爆炸现象，用肉眼能明显看见。测试可疑电容器时，要想给故障电容器加电而不引起突发故障，应当用一个电灯泡与待侧电容器串联，以防止电抓能量进人故障电容器。采用这种方法测盘漏泄电流更加安全。 电容损失当有电解质损失时就会发生电容损失。当电解电容器的密封外壳存在泄漏时，通常便发生电解质损失。由于正常的环境过程，经过一段时间密封便可能出现泄漏。通常，某些清洗溶剂、温度升高、振动或制造缺陷都会加速密封性能变坏。电解质损失的典型结果是电容损失，等效串联电阻增大，以及功率耗散相应增大。 开路当电容器内部的连接端子性能变差及失效时，通常便发生开路。电连接性能变差的产生可由于腐蚀、振动或机械应力作用的结果，可能损伤电连接。开路故障的结果是电容损失。
关注页面底部公众号，开通以下权限：
一、获得问题咨询权限。
二、获得工程师维修技术指导。
三、获得软件工程师在线指导
toupview,imageview,OLD-SG等软件技术支持。
四、请使用微信扫描首页底部官方账号！
相关新闻
- 金相显微镜的结构、原理及应用 [2023-07-07]
- 金相显微镜如何观察金相组织 [2023-07-07]
- 金相显微镜的基本原理与应用 [2023-07-07]
- 金相显微镜会遇到的哪些误区 [2023-07-07]
- 金相显微镜厂家：金相试样的平整与磨光 [2022-07-30]
- 仪器创新对我国的发展有着重要的意义 [2022-07-30]
