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详细的外观细微检查用光学显图像显微镜
所属分类:显微镜百科 点击次数:196 发布日期:2022-06-20
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详细的外观细微检查用光学显图像显微镜 若在完成所有非破坏性评估之后还未找出原因,便着手进行破坏性分析。此外,还须仔细筹划分析顺序,使在完成每一不可逆步骤之前能获得最多信息。细心、详细的内部外观检查和照片资料既是解决问题、又是决定下一步采用哪种分析技术的最有效方法。往往可以确定印制线路组件中的过应力路径以及近似的电流与电压大小、源为高阻抗或为低阻抗。然后,可以使正常的元件处于受力状态、观察是否能复制出现场故障。外观检查还能提供有关污染、不良的电气互连、导电膜和非导电膜、粘附不牢固以及制造缺陷和处理缺陷的信息。分析到此时,经骏表明,可以查出大约三分之二的元件故障原因,改进措施在此时便可着手实施。 对于余下的三分之一元件,可以采用许多种方法。这些方法将依据前面分析所搜集到的信息加以选择。
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