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光学显微镜与电镜之间存在放大倍数方面的差距
所属分类：显微镜百科 点击次数：268 发布日期：2022-06-20
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光学显微镜与电镜之间存在放大倍数方面的差距 由于透射电镜采用复型技术来分析研究断口形貌时，很难将所观察到的部位与实际断口试样上的位置或方向一一对应起来，所以给分析带来很大困难;再者，因为铜网的网格占去了很大的面积，使断口被观察到的范围很窄。因此，目前广泛采用扫描电镜来分析研究断口形貌特征。 在断口分析中，使用扫描电镜对断口试样上的同一部位，可以进行数倍到数万倍连续观察，即能弥补光学显微镜与透射电镜之间存在放大倍数方面的差距。当聚焦深度与透射电镜相同时，其分辨能力大约为10一30nm左右。另外，从电子图像成像质量及清晰程度采看，扫描电镜达不到透射电镜的水平。然而，扫描电镜可以省掉复杂的复型技术，直接观察断口实物，但所观察的断口试样，其尺寸是有限的，所以必须将其断口切割成适当的尺寸。若不允许切割，可用醋酸纤维膜(即AC纸)复型后再喷上碳或金属，然后放人扫描电镜中观察。 由此可见，透射电镜与扫描电镜同是进行断口分析的主要工具，但各有优缺点。目前的电子显微断口学，就是以这两种电子显微镜为基础建立起来的。
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