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透射电镜的制样与光学显微镜的制样是不同的
所属分类：显微镜百科 点击次数：196 发布日期：2022-06-20
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透射电镜的制样与光学显微镜的制样是不同的 透射电镜的制样与光学显微镜研究中的制样是不同的。在透射电镜研究中，要密切注视在压碎、研磨或抛光等加工过程中可能产生的缺陷或损伤。因此，在制备透射电镜样品时，一定要非常小心。 对象云母这一类的层状结构硅酸盐矿物，就可用它们的碎片或解理片来进行研究。做时只要用胶带一贴，就可把矿物拉下一薄层来，而胶带可用合适的溶剂溶掉如果矿物不具有明显的解理，则可先制成薄片，然后再用化学溶解法或用离子轰击法来减薄。化学溶解法的优点，不会给样品造成损伤，故制出的无缺陷样品，适合作透射电镜研究。 大多数矿物和岩石都能用离子减薄技术来作透射电镜或扫描透射电镜研究。Ti ghe对减薄的方法和设备已有过阐述。如果要对地质样品的薄片作减薄时，就应使用象莱克赛德胶或加拿大树胶等粘结物质，这样减薄后的样品箔，容易揭下来并粘到透射电镜研究用的铜网上去，同时要用照相的方法对离子减薄区域进行仔细监测，以便使透射电镜的研究结果能与光学研究结果进行对比。 由于不同的矿物在离子减薄时速度不同，就要求制样人有熟练的技艺和经验，同时还要有足够的耐心。
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