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专业应用于鉴定土壤颗粒矿物-图像分析显微镜
所属分类：显微镜百科 点击次数：161 发布日期：2022-06-20
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专业应用于鉴定土壤颗粒矿物-图像分析显微镜集成映象显微学 首先用双目镜检验，毋须作土样的前处理。为了扫描电镜((SEM)的检验，样本的表面需要能够导电。应用这种导电涂层，在真空条件下不致造成问题。对于土壤物质来说，附着双涂层(例如碳和白金)是适当的，因为土壤表面有许多微凹凸。理论上说，这些检验方法可放大到300000倍(x 300, 000)，但实际上，土壤物质放大的变幅小得多。一般放大15000到20000倍是切合实际的。如果导电涂层完全，放大倍数可接近60000。加上一个能量消散X射线分析仪(energy dispersive X一r-ay analyser)，可用于半定量的元素分析。 从双目镜检验换到扫描电镜(SEM)时常发生一些问题。这往往是由于土壤样本变干而断裂，以致改变土壤的微结构，这些困难可采用冻干法予以克服。 采用这些技术检验，特别是鉴定土壤颗粒矿物，一般是困难的， 甚至常常是不可能的。在土壤基质中，粘粒矿物经过改造和混合，不用冻干法是不好研究的。对此，扫描电镜(SEM)所可放大的倍数不能达到检验隐晶质矿物的要求。在风化的原生矿物中，对新生粘粒矿物的鉴定一般是可能的。
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