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橡胶粒子显微结构分析光学显微镜-带软件
所属分类：显微镜百科 点击次数：118 发布日期：2022-06-20
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橡胶粒子显微结构分析光学显微镜-带软件 光学显微 如果橡胶粒子大到足以用光学显微镜观察时，那末光学显微法是研究聚集态最简单而且更便宜的方法。通常近似地测定HIPS中的粒子尺寸时，测定的方式如下：把一小颗聚合物置于两玻片之间，加入一滴甲苯或其它溶剂， 在相差显微镜（Phase contrast microscope ） 或干涉显微镜中考察该溶液，、这种显微镜将折光指数上的些小差别转变为光密度上的差异。如需照相，应使用比较粘的和不易挥发的溶剂。在估计胶粒尺寸时，当然应当考虑溶剂对橡胶的溶胀。这一方法在聚合过程中监测相分离或相转变时最为有用。另外有一种适用于固体聚合物的方法，则需使样品熔化。 用溶剂法考察商品聚合物的样品，常因Ti02等颜料或填料的存在而复杂化。为了清楚地区别橡胶粒子和填料粒子，可以用一种偶氮染料来使胶粒染色 透射相差显微技术或干涉显微技术也适于考察薄切片的结构。切片较适合的厚度在1-5 μm 之间，可以由普通的切片机（Sledge microtome） 获得。 通常切片总有些卷曲，这是在切片过程中引入的扭变所致，可以将它漂浮在热甘油浴中使之松弛。然后把切片置于溶有K2HgI4的甘油中以提高其折光指数。 该溶液并不腐蚀HIPS和类似的聚合物，并可把它的浓度调整到和母体聚合物的折光指数相匹配（对PS为1.59），以使切片中的刀痕线和其它缺陷看不出来。
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