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磨粒的三维结构测定分析用实验室电子显微镜
所属分类：显微镜百科 点击次数：126 发布日期：2022-06-20
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磨粒的三维结构测定分析用实验室电子显微镜 采用普通显微镜难以得到磨粒的三维结构，特别是微观的三维形貌特征。 在一般实验室不可能采用比较高端的显微镜分析磨粒的三维形貌，而只能采用普通显微镜。这就需要在普通显微镜的基础上采用图像处理技术得到超分辨率的图像。 磨粒三维形态信息测量与特征描述方面的研究，提出了通过显微镜和图像形态学处理方法测量磨粒的三维形貌，但这仅是个开始，这种测最还受到显微镜分辨率、成本、测量方法的影响。随着超精密加工技术、微机械技术、微电子技术和生物技术的飞速发展，显微镜对表面测量精度可达到纳米量级，乃至分子层面。然而，虽然显微镜的测量精度越来越高，其尺度范围却越来越小； 由于瑞利极限的限制，采用高频光谱提高分辨率、却导致丰富多彩的微观世界变成了黑白世界。另外，测量条件的要求也很苛刻，限制了精密仪器的使用范围，这使得高精度与尺度、色彩和动态测量能力之间的矛盾越来越大。 因此，研究和开发各种大尺度下的超精密三维测量技术，如何对连续和非连续表面轮廓、大倾角表面轮廓进行非接触式超精密测量成为目前三维测是领域面临的两个亟待解决的问题，迫切需要研究和开发出一种超精密非接触式并具有跟踪能力的三维形貌测量与重构技术。特别是在超光学衍射极限条件下的高分辨率、大视场、大尺度三维测量技术，引起了人们广泛的研究兴趣
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