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锈层光学显微镜观察景深不够需要SEM电子显微镜
所属分类：显微镜百科 点击次数：195 发布日期：2022-06-20
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锈层光学显微镜观察景深不够需要SEM电子显微镜扫描电子显微镜(SEM ) SEM利用扫描线圈的作用.使电子束扫查试样表而，并与显像管电子束的扫描同步，用扫查过程中产生的各种信号来调制显像管的光点亮度，从而产生图像。因为锈层往往是疏松空洞结构，用光学显微镜观察景深不够，用透射电子显微镜(TEM)制样又极为困难，SEM以较高的分辨率、大景深清晰地显示粗糙样品的表面形貌，观察断口表面微观形态。它不仅高低、倍数连续可调，可观察金相组织，显示诸如点蚀、应力腐蚀的主体构造以及氯化物、碳化物等的分布与形状。制作试样较容易 通常扫描电子显微镜附有X射线能谱和波谱分析装置，可在观察的同时快速得出该区域的化学成分。SEM-EDS可以将组织、断口形貌、平均成分、微区成分分析同时完成，已成为金属文物研究的重要手段之一。
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