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测定细微小零部件的工具显微镜

所属分类:显微镜百科 点击次数:177 发布日期:2022-06-20

网站网友点击量更高的文献目录排行榜: 点此链接 测定细微小零部件的工具显微镜绕射技术―电子和中子绕射量子力学告诉我们,基于测不准原理(Uncertainty principle),粒子的位置和动量两者是是无法同时测定的,对于粒子位置的描述只能以一种机率的方式来表述,描述在某个位置上找到这它的机率。在1923年德布罗意(de Broglie)提出物质波概念来描述运动中的粒子,他提出物质波波长λ= h/p,其中p是动量,h为普朗克常数。将运动中的粒子可以描述成一个传递中波包(wave packet),既可表现出波的性质,也描述了粒子的概念。当物质也变成波时,即便是抽象的机率波,是否也能像水波、绳波或电磁波一样互相干涉呢?实验首先证实电子的波特性。个将中子用于固态晶体之绕射实验则是于1945年由俄斯特.沃伦(Ernest O.Wollan)在橡树岭石墨反应堆进行的。随着科技的进步,技术的成熟,科学家已经可以制造出波长适当的电子束和中子束,用于不同方面的研究。由于电子束以长程的库伦作用力与物质交互作用,强度是很容易被吸收而衰减,一般而言,电子束只能达到材料表面数层原子。利用此一特性,电子绕射主要是用于研究表面的结晶状态,低能电子绕射(Low-energy electron di raction,LEED)以及反射或是反射式高能电子绕射(Re ectionhigh-energy electron diffraction,RHEED)是表面物理研究中极为重要的工具 关注页面底部公众号,开通以下权限: 一、获得问题咨询权限。 二、获得工程师维修技术指导。 三、获得软件工程师在线指导 toupview,imageview,OLD-SG等软件技术支持。 四、请使用微信扫描首页底部官方账号!

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