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3维影像测量仪器待测物在z轴方向测量原理
所属分类:显微镜百科 点击次数:216 发布日期:2022-06-20
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3维影像测量仪器待测物在z轴方向测量原理因对焦寻形演算法则主要是根据像素灰阶值变化剧烈的程度,进而得到在焦平面的讯号;但若对焦寻形演算法则结合最小相邻反捲积演算法则,除了会根据像素灰阶值变化剧烈的程度外,还会依据上下最近两层影像的资讯,推测出更的焦平面区域,重建出较佳的三维表面结果,分别以对焦寻形原理及对焦寻形原理结合最小相邻反捲积两种演算法则,并搭配待测物在 z 轴方向的扫描,达到待测物三维表面重建的目的A 为电脑、B 为彩色 CCD 摄影机、C 为光学显微镜、D 为光源机、E和 F 为步进马达的控制单元。其优点为所提出的新聚焦度量值法比传统的聚焦度量法(拉普拉斯(Laplacian)、tenengrad、变异数(variance))佳,结果如表 1.1 所示,从表中圈选的区域我们可以观察出 F. S. Helmli等人所提出的聚焦度量方法比传统的方法佳;其缺点为只能量测表面资讯较充足的待测物,对于表面资讯不充足的重建结果较差
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