显微镜百科
表明轮廓测量仪器常识-超细微探针显微镜
所属分类：显微镜百科 点击次数：195 发布日期：2022-06-20
网站网友点击量更高的文献目录排行榜：
点此链接
表明轮廓测量仪器常识-超细微探针显微镜AFM电子显微镜，配合使用超细微探针，探针尺寸可降低到10 nm以下等级，参考NIST之AFM量测线宽方法，变更为双倾斜影像叠合量测法，先将试片顺时针倾斜，此时探针扫描由左往右，量测影像之左侧为探针实际量测试片线宽之实际轮廓影像，再将试片逆时针倾斜时，探针扫描由右往左(量测影像，同样试片右侧轮廓为探针实际量测试片线宽右侧之几何形状，继之以影像叠合技术组合量测影像，叠合后，取次扫描之左测影像与第二次扫描之右测影像；在旋转试片时，以试片量测位置表面为旋转中心，所以旋转试片后，量测位置偏移很小(约为40 μm)，能调整AFM扫描范围，所以二次量测都能在同一位置。影像叠合组合技术，是利用ICP(Iterative closest point)数学式，此法可算得两张图像相对应之旋转与平移矩阵，再撷取多张相近图像之迭代运算后可收敛出一张最接近之叠合影像。经影像叠合后之量测影像，需补偿修正探针之半径后，才能得到试片奈米结构线宽之实际形貌
关注页面底部公众号，开通以下权限：
一、获得问题咨询权限。
二、获得工程师维修技术指导。
三、获得软件工程师在线指导
toupview,imageview,OLD-SG等软件技术支持。
四、请使用微信扫描首页底部官方账号！
相关新闻
- 金相显微镜的结构、原理及应用 [2023-07-07]
- 金相显微镜如何观察金相组织 [2023-07-07]
- 金相显微镜的基本原理与应用 [2023-07-07]
- 金相显微镜会遇到的哪些误区 [2023-07-07]
- 金相显微镜厂家：金相试样的平整与磨光 [2022-07-30]
- 仪器创新对我国的发展有着重要的意义 [2022-07-30]
