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扫瞄式探针显微镜（SPM ）-材料机械性质量测
所属分类：显微镜百科 点击次数：248 发布日期：2022-06-20
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扫瞄式显微镜（SPM ）参数扫瞄式探针显微镜（SPM ）-材料机械性质量测荷重范围 :1nN~ 10mN。荷重解析度(bit) : 1nN。荷重杂讯 : 100nN。压痕深度范围 : 1 nm ~ 50μm。压痕深度解析度(bit) : 0.0002 nm。压痕深度杂讯 : 0.2nm。荷重速率解析度(bit) : 0.1 ~ 50000μN/sec。Thermal drift杂讯 : < 0.05 nm/sec本设备可提供材料机械性质量测,是研究奈米材料之机 械性质重要量测设备之一 ∎ 适用样品:薄膜/薄片/块材
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