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表面轮廓的工具显微镜-避免样品间相对位移的机械振动？
所属分类：显微镜百科 点击次数：232 发布日期：2022-06-20
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表面轮廓的工具显微镜-避免样品间相对位移的机械振动？（利用探针式针尖探测表面轮廓的方法）很相似，但是 Binning 和 Rohrer并不是利用针尖和表面实际的接触，而是使针尖和样品间保持数埃的微小距离，且这个距离由两者间的穿隧电流大小来决定。两年后，Binnig 和 Rohrer 看到一篇 R. Young描述场发射显微镜（field-emission microscope, 研究人员称之为”topografiner”）的文章，这种显微镜和 STM 在操作上的原则相似，但是它的针尖和样品表面间的距离较远，因为它利用的是场发射电流，而非穿隧电流。在这篇文章中，建议利用更尖的针尖来提升显微镜的解析度，并述及它在分谱学上令人期待的一些方面。因此在结合了真空穿隧的想法后，”Scanning Tunneling Microscopy”的想法逐渐成形开始进行 STM 研究工作的头几个月，Binnig 和 Rohrer 集中注意力于解决一些问题：• 如何避免会造成针尖和样品间相对位移的机械振动？>>用真空避免针尖的机械固定装置受外在声音和震动造成的杂讯震动• 针尖和样品间的力有多大？>>在大部分情况中不构成问题• 如何在那么微小的尺度下移动针尖？>>利用压电材料• 如何避免样品和（特别是）针尖上的强烈热扰动？>>选择弹性系数小的材质制作平均截面积相对小的针（下图为反例）针的侧面若是很宽而平的圆锥面称为 whiskers（腮鬍）
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