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AFM显微镜与STM的原理最主要的差异是什么
所属分类：显微镜百科 点击次数：307 发布日期：2022-06-20
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原子力显微术原理示意图AFM的工作原理与STM大致相同，最主要的差异乃在探针与样品表面间之交互作用，不再是微小空隙间所产生的穿隧电流，而是探针与样品表面间原子的作用力。在AFM装置上，探针通常是由一个针尖附在一支横杆(Cantilever)前端所组成，作用力造成横杆之微小偏曲，其变形量可用光学侦测法来感测。如此，借着扫描系统、侦测横杆变形量的机构及回馈电路，便能借着垂直微调探针与样品表面间的距离，而在扫描的过程中维持固定的原子力。此种垂直微调距离简称高度，而得到了扫描区域的表面形貌或高度影像
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