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量测非金属亮面的的样品表面凹陷处
所属分类：显微镜百科 点击次数：268 发布日期：2022-06-20
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目前在光学设计面临一个大问题以前我在量测非金属亮面的的样品表面凹陷处的深度时可以用传统的phase-shift interferometry方法但是针对金属亮面的表面凹陷深度量测时因为反射dominate，所以无法计算深度人家说用白光干涉显微镜可以量但是它只能一次量一个位置我想要量大面积且有数百个点要量不知道有没有什么样的光学设计可以实现？或者是有没有把白光干涉显微镜变成2D scan的方式可以扫大面积的？
回覆：白光干涉显微镜是扫整面的......
现在的型号还有3d显示图.更大深度.平均深度和方均根深度值
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