显微镜百科
消光的测定与选择切面
所属分类:显微镜百科 点击次数:189 发布日期:2022-05-08
大家好,这里是老上光显微镜知识课堂,在这里你可以学到所有关于显微镜知识,好的,请看下面文章:
消光的测定与选择切面
在正交偏光镜间两个非均质体任意方向的切片,除了垂直
光轴以外的,在四十五度位置重叠时,则两个矿片光率体
椭圆半径平行。
总光程差等于原来两个矿片程差的和,表现为干涉色升高
,异名半径平行时,则总光程差等于原来两个矿片光程差。
其干涉色降低,则就是比原来高的干涉色降低,比原来低
的干涉色不一定降低,而对于常用的补色器则有石膏试板
,石英楔。
晶质材料出现消光的情况,则选择成干涉色更高的切面,
使得解理纹使得解理平行纵丝,旋转至消光位再旋转四十
五度。
网站网友点击量更高的文献目录排行榜:
点此链接
关注页面底部公众号,开通以下权限:
一、获得问题咨询权限。
二、获得工程师维修技术指导。
三、获得软件工程师在线指导
toupview,imageview,OLD-SG等软件技术支持。
四、请使用微信扫描首页底部官主账号! 上一篇:晶体位向分布的晶体颗粒金属
下一篇:微量升华方法的化学成分性质
相关新闻
- 金相显微镜的结构、原理及应用 [2023-07-07]
- 金相显微镜如何观察金相组织 [2023-07-07]
- 金相显微镜的基本原理与应用 [2023-07-07]
- 金相显微镜会遇到的哪些误区 [2023-07-07]
- 金相显微镜厂家:金相试样的平整与磨光 [2022-07-30]
- 仪器创新对我国的发展有着重要的意义 [2022-07-30]