磁性微粒标识法的原理相类似,铁族材料检测显微镜

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显微镜百科

所属分类：显微镜百科点击次数：105 发布日期：2022-05-08

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静电场标识法

同磁性微粒标识法的原理相类似，静电场标识法适用予试验

非导电性材料，例如陶瓷绝缘子。把碳酸钙细粉末用空气喷枪喷

射到试样的表面上就带有正电荷。这些电荷被吸附到裂纹处，于

是这些细粉末就把裂纹的轮廓描画出来。

涡流试验

对以铁族材料为基体的覆盖层，可以通过由恒定的激励信号

产生的磁路进行测量，其方法是观察由于有了覆盖层而造成的磁

路中阻抗(磁阻)的变化而引起的磁通量的变化。

探头由一个带密闭线圈绕组的激励器单元构成，绕组由一个

低频发生器来激励。探头的一对触头形成一个强的局部电场，它

影响到通过磁极的磁通，所以也就影响到监测器单元的放大绕组

的电动势读数。如果把对裸基体材料所产生的电动势预先校准，

则监测器的读数就有可能表示覆盖层厚度的数字。

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