表面作附加加工的粗糙度测量工具显微镜

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所属分类：显微镜百科点击次数：189 发布日期：2022-05-08

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表面作附加加工的粗糙度测量工具显微镜

分析摩擦面时，特别重要的是要能够用既不“损坏”表面又

不需要对表面作附加加工的方法来进行研究。能透过电子显微镜

的发射光谱学和吸收光谱学提供了这种可能性。因此，光栅电子

显微镜以及各利，衍射法是主要的研究方法。在这种情况下.由于

有上面所指出的一些特点，X射线照相法是量合用的能提供信息

的衍射法。在研究发生很大的塑性变形、破坏、成分变化和结构

变化的摩擦面时.X射线法是无与伦比的。

无论是高而尖的微凸体，还是非常平滑的微凸体，在摩擦力

的作用下均将趋于某一中间值。如果明显地看出高而尖的微凸体

在突部上所产生的高应力作用下变得平滑，那就需要专门研究导

致具有平滑微凸体的光滑面发生破坏的原因。

为了说明光滑面是不可能实现的，我们提出了“缺膜”假

说。这一假说基于摩擦面上必定具有保护膜。并考虑了生成薄膜

和磨损*过程的时间(它与粗糙度有关)。

生成薄膜可以靠外界的液相或气相来实现。

对液相来说，向磨损面供应润滑剂的机理还不太清楚。它可

能具有扩散性，也可能起润湿作用(液体沿固体表面扩散)等

等；表面愈光滑，即接触斑点愈大，则润湿斑点所需的时间就愈

长。

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