微分干涉显微镜常用于导电粒子，所以又称导电粒子显微镜
所属分类：显微镜百科 点击次数：1045 发布日期：2019-06-20
微分干涉显微镜常用于导电粒子，所以又称导电粒子显微镜
微分干涉显微镜（10倍导电粒子图）
微分干涉对比（DIC），也被称为诺马尔斯基对比，有助于观察标本表面的细小的高度差，因此可增强对比度特征。微分干涉对比使用沃拉斯顿棱镜以及偏光器和分析仪，其传动轴彼此垂直（相交成90°）。由棱镜分割的两条光波经标本表面反射之后进行干涉，呈现为可见的高度差以及变化的颜色和纹理。
在大多数情况下，入射光显微镜提供大部分所需的信息，但在某些情况下，对于特定的聚合物和复合材料，透射光显微镜（用于透明材料）及污渍或染料的使用可观察物体的微观结构，而当使用标准的散装样品制备及正常的入射照明时，该物体的微观结构无法观察。
由于许多热固性材料对常见的金相腐蚀剂产生惰性，样品的微观结构通常可利用传输的偏正光进行更佳的观察，以增强离散特征的折射率差异。
偏振：由光波及任何数量的振动方向构成的自然光。偏振滤镜仅可允许与传输方向平行的振动光波进入。相交成 90° 的两个偏振镜产生更大的消光（黑暗）。若在偏振镜之间的样品改变光的振动方向，则将出现双折射特性的颜色。
微分干涉显微镜（10倍导电粒子图）
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