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集成电路板分析高质量测试工业显微镜
所属分类：显微镜百科 点击次数：134 发布日期：2022-06-20
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集成电路板分析高质量测试工业显微镜在超速测试中，在时钟速度高于系统时钟的条件下执行现有的或改进后的过渡故障模式。在更高时钟下的测试模式的应用能够降低所有路径上的有效系统余量，因此能够增加检测到所有路径上的小延迟缺陷的概率。由于这一点，基于超速方法的测试方案不仅能够检测关键的小延迟缺陷，还能够筛选出潜在的可靠性缺陷。但是需要特别注意的就是，当选取测试时钟速度时许多长路径可能成为多周期路径，因此需要将它们屏蔽掉。同样，更高的测试频率会使更多的短路径看成可能的延迟缺陷，因此对那些不需要严格质量水平的产品会过杀其良率。然而，庞大的模式数量的问题仍然是超速测试方法的一个主要的缺点。基于超速的测试方法已经得到扩展并包含工艺偏差的影响以及串扰效应。这一扩展对理解小延迟缺陷是十分关键的，因为这些不仅仅是在生产过程中引入的物理缺陷所引起的，而且也会因电气缺陷在现实生活中发生，例如串扰。替代或混合的测试方法，能够解决庞大的模式数量以及很长的运行时间的问题而不会损耗测试质量。大部分替代的测试方法基于高效的测试模式选取或高效的故障点选取。基于模式选取的方法中，不用生成时序敏感模式，从现有的过渡故障模式库中选取高效的测试模式。测试模式对小延迟缺陷的有效性是基于电路中主／扫描输出端所观测到的输出偏差而测量得到的。类似的，其他的测量标准可以用于找出具有更高的小延迟缺陷覆盖率的测试模式。对于大型的工业电路来说，这些方法在测试质量和测试成本方面可以提供更高的灵活性，但是这些方法的缺点之一就是测试结果的总体质量无法高于选取这些测试模式源头的测试模式库的质量。、因此，拥有一个非常高质量基线的测试模式集是关于这些方法的先决条线。高效的基于故障选取的替代方案不会遭受这一弊端。有效的基于故障选取的方法的主要原理就是并不是所有的故障点都需要特别的测试模式来锁定小延迟缺陷，因为传统的过渡故障模式已经检测了很多可能的小延迟缺陷。基于电路拓扑的故障选取方法。这两种方法能够在合理的计算时间内产生高质量的测试集，这两种方法在产业上的应用也验证了这些方法针对产品应用的价值。
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