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研究标本三维结构收集同焦平面水平的图像
所属分类：显微镜百科 点击次数：207 发布日期：2022-06-20
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研究标本三维结构收集同焦平面水平的图像z轴的光切间距 为了研究标本的三维结构，要收集一系列不同焦平面水平的图像，相邻焦平面的间距由向聚焦器发出的指令决定。确保重建图像在z、Y及z轴上的比例正确的最简单办法就是收集的光切面在2轴上的间距与z、y轴上的像素值相同。但是，z轴上标本进行适当取样所需的焦平面间距应不小于z、Y轴上的像素值，原因在于纵向分辨率比横向分辨率差。更佳的焦平面间距(依据奈奎斯抽样定理)为纵向分辨率除以 更小的焦平面间距会导致取样过多，光漂白的危险性随之增加。照明强度 照明强度逐渐提高到使荧光发射量达到饱和水平的过程中，荧光发射量呈线性增长。照明强度刚好低于能使荧光发射量达到饱和水平时，信号背景比与信噪比达到更佳。通过在光路中插入中密度滤光片和／或使激光器在极限功率下工作来调节激光扫描显微镜的照明强度。一般来说，光漂白比例在可接受范围内的情况下，照明强度越高，得到的图像越好。 共聚焦图像的反差及信息量受光电倍增管(PMT)放大仪黑色电平及增益的影响。为获取更大信息量，
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