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成像技术的新时代随着显微镜-非接触模式
所属分类：显微镜百科 点击次数：109 发布日期：2022-06-20
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成像技术的新时代随着显微镜-非接触模式非接触模式 成像技术的新时代随着显微镜学家开发非接触模式系统而来临。在针尖表面接触可能造成样品细微改变的情况下，就可以使用非接触模式。对于这种模式，针尖位于样品表面上方50～150A进行扫描。作用于针尖与样品间的范德瓦尔斯吸引力被测量出来，针尖在表面扫描得到表面形貌图像。不过针尖与样品的吸引力实际上要比接触模式下的作用力小得多。因此，必须给针尖以微小的振动，用交流电检测法实现对高频振动微悬臂的振幅、位相和频率进行检测，这些物理参数的变化取决于样品与针尖作用力的变化幅值。要得到最理想的分辨率，就有必要测量样品表面上仅一个纳米处范德瓦尔斯力的力梯度。总之，液体污染表面层要比范德瓦尔斯力梯度面厚得多。因此，如果振动探针陷人液体污物表面层或陷在可测力的有效范围之外，非接触模式的AFM就不可能得到真实表面形貌
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