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用测量在解理鳞片上消光角的方法区别几种长石
所属分类：显微镜百科 点击次数：114 发布日期：2022-06-20
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用测量在解理鳞片上消光角的方法区别几种长石双晶 在一个晶体的薄片中，双晶的存在，一般在正交偏光镜下检查薄片时立刻就显现出来，由于双晶的二个单体现出不同的干涉色，并在不同的位置上消光。 在最普通的情况下，即双晶面和联接面相符合时，薄片垂直于双晶面时，将呈现双晶的两个单体消光角，它们自连接线算起呈相等但相反的方向，反过来说，一个晶体呈现上等而相反的消光角时，可以假定它是几乎垂直地切在双晶面上。 假如切片的平面切在晶体的双晶面上成很小的角度时，双晶的二个单体在相当的宽度 上相重迭，我们将看到在二者中间的一个狭窄条带，它不表现与二者任何相同的光学性质。 当有重复的双晶时，像在长石中有钠长石纹理时，按照光学性质分开成二组交替状的排列。 长石中的消光角 用测量在解理鳞片上消光角的方法区别几种长石，是一种较给的方法，但不能应用在岩石薄片的晶体里，为了这个缘故，米舍尔勒威和其他人所提倡的方法，就常常不很有用的，有二种情况，它是完全可以应用的。 用在结晶具有钠长石纹理者——选择切片，切在几乎垂直于纹理的方向，这可借存于二组相交替的纹理中的消光角从双晶线算起都是方向相反和大小几乎相等而得知，在三个或四个所选出的晶体中测量末知的角度，并取得所发现的更大值，这就是所有这类切片的近似更大的角度，它对每种长石是一个固定常数，如在附圆中所指出的某些类型，末在圆解中的类型的数值，用内插法可以鉴定得相当准确，因为更大消光角从一系的终了到另 一系间的变化是很平稳的，但是必须注意在某些情况下，不同的种类长石呈现相等的角度，在这点关系上可能造成二个现象。
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