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随着不同AFM显微镜技术的发展-表面粗糙度测试
所属分类：显微镜百科 点击次数：191 发布日期：2022-06-20
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随着不同AFM显微镜技术的发展-表面粗糙度测试 原子力显微技术(AFM)是建立在图像技术基础上的，主要用于表征材料的表面形貌。 随着不同AFM技术的发展，它能同时包含物理和化学信息，例如，导电一AFM，开尔文探针显微技术(KPFM).非接触式扫描显微技术(NC一SFM )等。AFM可以提供在理想条件下的横向及纵向人数量级分辨率.在获得形貌的同时，八FM还可以给出相图，这个相图对应表面的物理性质，也可以对应化学性质对比。但八FM技术有明显的不足，即受到分析范围和非常缓慢的采集时间的限制.在()PV研究中，AFM主要用于研究如何获得本体异质结活性层的更佳纳米结构(溶剂选择、热退火处理方法和混合比例等)，从而提高OPV效率[5-8)0 AFM对稳定性和衰减的研究仅限于支持其他研究方法得到的结论。 Motaung等利用AFM相图以及表面粗糙度测试表明其表面粗糙度的增加，以及大颗粒C60的形成)，并结合其他技术来研究热退火处理过程中，P3HT:嘶复合薄膜的热降解过程。可以发现，随着热退火处理时间的改变，薄膜的形貌也随之改变，即随着场过度生长，使得表面粗糙程度增加，最终导致P31hT，C60太阳电池效率的降低。
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