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被广泛使用的扫描电子显微镜显微技术介绍
所属分类：显微镜百科 点击次数：231 发布日期：2022-06-20
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原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）原子力显微镜的方法是由 G. Binning，C. F. Quate 和 Ch. Gerber在 1986 年所提出的。其原理是利用针尖与样品间的原子力作为量测的机制。这里所谓的原子力包含了凡得瓦尔力（Van der Walls force）与排斥力（repulsive force），其作用力的关系。而原子力显微镜因受样品及操作环境限制较少，故为目前最被广泛使用的扫描探针显微术。利用光激发荧光光谱实验，探讨在室温下，氮化铟镓合金浓度分佈在0 ≦ x ≦ 1之间发光位置的变化，从0.69 eV变化至3.40eV。并由原子力显微镜下观察到高铟含量的氮化铟镓有一团团簇（cluster）形成。同时在这些样品的温度变化光激发荧光光谱上，发现其峰值能量呈现和低铟含量相同的 S 型变化外，半高宽也有不规则的变化。由不同位置的微光激发荧光光谱实验，来检测少数氮化铟镓簇的发光行为，再利用温度变化的微光激发荧光光谱实验，得知氮化铟镓簇讯号随温度变化趋势和光激发荧光光谱相同
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