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扫瞄穿隧式电子显微镜是谁发明的？
所属分类：显微镜百科 点击次数：246 发布日期：2022-06-20
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扫瞄穿隧式电子显微镜是谁发明的？瑞士 IBM 苏黎世(Zurich)研究实验室的研究员 Gerd Binnig 和 Heinrich Rohrer 发明“扫瞄穿隧式电子显微镜”(Scanning Tunneling Microscope,STM)5，可观察样品的表面原子排列形貌。自此以后，量测奈米等级和原子级尺度的表面轮廓，都可利用极细的探针在靠近试片表面进行形貌或表面特性的探测 。而且利用试片材料特性的不同，探针和试片表面原子或分子团所产生的交互作用也不一样，所发展出各种扫瞄探针显微镜(Scanning Probe Microscope, SPM)：例如原子力显微镜 (AtomicForce Microscope, AFM)6、静电力显微镜 (Electrostatic ForceMicroscope, EFM)、磁力显微镜 (Magnetic Force Microscope,MFM)、扫瞄电容显微镜 (Scanning Capacitance Microscope, SCM)及扫瞄近场光学显微镜 (Scanning Near-Field Optical Microscope,SNOM)等，来检测与探讨奈米材料表面结构的各种不同性质及特性
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