膜的结构和形貌计量仪器,膜的表征和性质检测

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所属分类：显微镜百科点击次数：204 发布日期：2022-05-08

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膜的表征和性质检测方法

很显然，对于功能膜材料，我们首先考虑的是这种材料的性能

。但为了更好地了解其性能产生的机制和探寻膜材料与性能之间的

联系，对其进行一定的表征以确定膜的组成、结构、形貌、完整度

等等则是非常必要的。同时，利用合适的方法对功能薄膜的特性进

行检测，使其功能性得以表达并对其功能的好坏进行评价，也是十

分重要的。

对于一个化学工作者来说，最容易想到的就是各种谱学表征方

法。在这里，我们将简要介绍以下几种最常用的谱学方法：紫外可

见光谱(UV—Vis spectroscopy)、红外光谱(1Rspectroscopy)、拉

曼光谱(Raman spectroscopy)、荧光光谱(fluorescencespectrosc

opy)及光电子能谱(photoelectronspectroscopy)等。这些谱学方

法所反映的主要是分子及其聚集体的行为。通过这些光谱及其与体

相光谱的比较，我们可以推测膜中分子或其聚集体的存在形式及其

与体相材料的区别。

膜的结构和形貌对其性质也有很大的影响。显微技术一向是表

征膜形貌最直接最有效的工具。随着技术的进步，各种显微技术的

发展为我们研究薄膜形貌提供了更多的选择余地。在本章的第二节

，我们将主要介绍光学显微镜(包括布儒斯特角显微镜和荧光显微

镜)、电子显微镜(包括透射电镜和扫描电镜)及扫描探针显微镜在

膜表征上的应用。此外，X射线衍射技术对于多层膜的表征也是最

为常用的手段之一。

对膜的光学、电学及表面性质的常用检测手段。现代科学技术

的发展正在不断地完善原有的检测技术和仪器设备，同时也带来了

许多新方法和新仪器。

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