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寻找切面之前，必须要校正好显微镜-锥光镜装置特点
所属分类：显微镜百科 点击次数：167 发布日期：2022-05-08
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寻找切面之前，必须要校正好显微镜-锥光镜装置特点
1．锥光镜装置特点及注意事项
锥光装置是在正交偏光镜的基础上，加上聚光镜，并把聚光镜升到更高位置，换用高倍
物镜(40×以上)，推人勃氏镜或去掉目镜，这样就构成锥光镜的装置。该装置可以用来测定
矿物的轴性、光性符号及光轴角和切面方向。
使用该装置是应该注意以下事项：
(1)在寻找切面之前，必须要校正好显微镜，不仅要校正好中、低倍物镜中心，还必须校
正好高倍物镜的中心以及校正好聚焦系统的中心。
(2)用在中低倍物镜寻找切面，将找好的切面置于视域中心。(一般情况下尽可能选定
干涉色更低的切面)。
(3)调换高倍(大于40×)物镜。换用高倍物镜时必须格外小心。初学者切记要从镜筒
外侧看着物镜，缓慢的下降镜筒，使镜筒尽量靠近薄片，但不要与薄片接触。然后，从目镜筒
中看着视域，利用微动螺旋缓慢的提升镜筒，直至视域内物像清楚为止。
(4)加入聚光镜。聚光镜应在较低的位置上加入，然后再缓慢的升高，并使其达到较高
位置，但不能与薄片底部相碰。
(5)最后推进勃氏镜，观察干涉图。推入勃氏镜时动作要轻，以免移动薄片或上偏
光镜。
(6)观察完干涉图，卸下高倍物镜(一定要先提高镜筒，再操作)。换上中低倍镜，推出
勃氏镜。
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